HI1710A微波漏能儀說(shuō)明書(shū)

開(kāi)機(jī)HI-1710A

* 關(guān)閉電源，將 HI-2623 微波爐探頭連接到 HI-1710A 前面的探頭連接器。 插入連

接器，使定位螺釘朝上。

* 將 HI-1710A 連接到交流電源。

* 打開(kāi)HI-1710A正面的電源開(kāi)關(guān)。 屏幕將顯示固件版本和其他 ETS-Lindgren 信息。

在此期間執(zhí)行一系列自檢； 自檢完成后，探頭準(zhǔn)備歸零。

* 將探頭置于零場(chǎng)環(huán)境中，然后按HI-1710A正面的ZERO。歸零完成后，HI-1710A 準(zhǔn)

備就緒。

使用HI-1710A

檢查探頭間隔錐是否損壞、變色或污染。錐體磨損或損壞或可能嵌入錐體中的金屬

顆粒污染可能會(huì)影響精度。如有必要，更換錐體。有關(guān)部件號(hào)，請(qǐng)參閱第 6 頁(yè)的更

換部件和可選部件。

讓 HI-1710A 預(yù)熱至少 10 分鐘。

* 選擇測(cè)試需要的操作設(shè)置。對(duì)于正常測(cè)試或起點(diǎn)，請(qǐng)使用默認(rèn)條件。要選擇設(shè)置，請(qǐng)

參閱第 15 頁(yè)的菜單選項(xiàng)、設(shè)置和命令集。

* 開(kāi)始測(cè)試前將探頭調(diào)零。當(dāng)烤箱在合適的負(fù)載下運(yùn)行時(shí)，在烤箱表面上移動(dòng)探頭，保

持探頭軸線(xiàn)（手柄）垂直于潛在泄漏區(qū)域。

* 握住探頭的紅色手柄以避免潛在干擾。使身體的其他部位和探頭線(xiàn)遠(yuǎn)離探頭頭部附近。

模擬條形圖顯示可用于確定最高泄漏區(qū)域。在正常模式（非峰值保持）下，條形圖顯示

將跟蹤顯示的數(shù)字值并響應(yīng)過(guò)濾后的 RF 信號(hào)。當(dāng)儀器在峰值保持模式下操作時(shí)，條形圖

顯示不會(huì)被過(guò)濾并且對(duì) RF 強(qiáng)度的變化反應(yīng)非常快。掃描時(shí)可以使用峰值保持模式來(lái)捕獲

最高泄漏區(qū)域，而條形圖將連續(xù)顯示泄漏的瞬時(shí)變化。

將過(guò)濾器選擇更改為 FAST 將減少系統(tǒng)的響應(yīng)時(shí)間。這將更有效地顯示由于模式攪拌

器或其他調(diào)制設(shè)備導(dǎo)致的 RF 水平快速變化的影響。在 SLOW 和 FAST 濾波器位置，響

應(yīng)時(shí)間滿(mǎn)足 RF 測(cè)量?jī)x器響應(yīng)時(shí)間的 CDRH 要求，而 SLOW 響應(yīng)特性可平滑RF 變化。

測(cè)試完成并記錄 RF 讀數(shù)后，在下一次測(cè)試之前再次將 HI-1710A 調(diào)零。零點(diǎn)可能會(huì)

在很長(zhǎng)一段時(shí)間內(nèi)逐漸漂移。開(kāi)始測(cè)試前重新歸零。